1.

国際会議録
国際会議録
1. Microstructural Changes in W-Polycide Gates Capped With a Thin Polysilicon Layer
Kim, Y. O. ; Bevk, J. ; Furtsch, M. ; Georgiou, G. E. ; Mansfield, W. ; Masaitis, R. ; Opila, R. ; Silverman, P. J.
出版情報: Electron microscopy of semiconducting materials and ULSI devices : symposium held Aprl 15-16, 1998, San Francisco, California, U. S. A..  pp.109-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 523
2.

国際会議録
国際会議録
2. Nanoscale Electronic Devices The Nano-Transistor
Timp, G. ; Baumann, F. ; Bude, J. ; Bourdelle, K.K. ; Green, M. ; Grazul, J. ; Chetti, A. ; Forsyth, G. ; Kleiman, R. ; Kiemens, F. ; Kornblit, A. ; Lyding, J. ; Mansfield, W. ; Muller, D. ; Sorsch, T. ; Tennant, D. ; Timp, W. ; Tung, R. ; Yu, J.
出版情報: Quantum confinement VI: nanostructured materials and devices : proceedings of the international symposium.  pp.55-69,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-19