1.

国際会議録
国際会議録
1. Positron Trapping in Deformed Copper Down to Millikelvins
Haaks, M. ; Tramm, C. ; Mueller, I. ; Staab, T. ; Zamponi, C. ; Herzog, P. ; Maier, K.
出版情報: Positron annihilation ICPA-13 : proceedings of the 13th International Conference on Positron Annihilation, Kyoto, Japan, September 2003.  pp.96-98,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 445-446
2.

国際会議録
国際会議録
2. Spatially Resolved Detection of Point Defects in the Vicinity of Scratches on GaAs by the Bonn Positron Microprobe
Staab, T.E.M. ; Zamponi, C. ; Haaks, M. ; Mueller, I. ; Eichler, S. ; Maier, K.
出版情報: Positron annihilation ICPA-13 : proceedings of the 13th International Conference on Positron Annihilation, Kyoto, Japan, September 2003.  pp.510-512,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 445-446
3.

国際会議録
国際会議録
3. Non-Destructive Lifetime Prediction in Material Testing with the Bonn Positron Microprobe
Mueller, I. ; Bennewitz, K. ; Haaks, M. ; Staab, T.E.M. ; Eisenberg, S. ; Lampe, T. ; Maier, K.
出版情報: Positron annihilation ICPA-13 : proceedings of the 13th International Conference on Positron Annihilation, Kyoto, Japan, September 2003.  pp.498-500,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 445-446