1.

国際会議録
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1. ELECTRICAL PROPERTIES OF n- AND p-TYPE In0.53Ga0.47 As LAYERS FORMED BY ION IMPLANTATION AND RAPID THERMAL (FLASH) ANNEAL
L:iu, S. G. ; Narayan, S. Y. ; Magee, C. W. ; Wu, C. P. ; Kolondra, F. ; Paczkowski, J. ; Capewell, D.
出版情報: Rapid thermal processing of electronic materials : symposium held April 21-23, 1987, Anaheim California, U.S.A..  pp.375-380,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 92
2.

国際会議録
国際会議録
2. VACANCY DIFFUSION AT POLYSILICON ENCAPSULATED GaAs SURFACES
Kavanagh, K. L. ; Magee, C. W. ; Sheets, J.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.463-466,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
3.

国際会議録
国際会議録
3. Energetic Ion Beams in Semiconductor Processing: Summary of a DOE Panel Study
Picraux, S. T. ; Chason, E. ; Poate, J. M. ; Borland, J. O. ; Current, M. I. ; Rubia, T. Diaz de la ; Eaglesham, D. J. ; Holland, O. W. ; Law, M. E. ; Magee, C. W. ; Mayer, J. W. ; Melngailis, J. ; Tasch, A. F.
出版情報: Ion-solid interactions for materials modification and processing : symposium held November 27-December 1, 1995, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.859-,  1996.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 396
4.

国際会議録
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4. Secondary Ion Mass Spectrometer Design Considerations for Organic and Inorganic Analysis
Magee, C. W.
出版情報: Desorption mass spectrometry : are SIMS and FAB the same?.  pp.97-,  1985.  Washington, D.C..  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 291