1.

国際会議録
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1. Diffuse scattering sheets in reciprocal space corresponding to Kiessig fringes for x-ray multilayers
Macrander, A.T. ; Chu, Y.S. ; Liu, C. ; Mancini, D.C.
出版情報: X-ray mirrors, crystals, and multilayers II : 10-11 July 2002, Seattle, Washington, USA.  pp.230-234,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4782
2.

国際会議録
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2. Profile coating of KB mirrors at the Advanced Photon Source
Liu, C. ; Assoufid, L. ; Macrander, A.T. ; Ice, G.E. ; Tischler, J.Z.
出版情報: X-ray mirrors, crystals, and multilayers II : 10-11 July 2002, Seattle, Washington, USA.  pp.104-112,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4782
3.

国際会議録
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3. Recoating mirrors having a chromium underlayer
Khounsary, A.M. ; Eng, P.J. ; Assoufid, L. ; Macrander, A.T. ; Qian, J.
出版情報: Advances in mirror technology for X-ray, EUV lithography, laser, and other applications : 7-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.177-181,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5193
4.

国際会議録
国際会議録
4. X-RAY MONITORING OF InGaAsP LAYERS GROWN BY VAPOR PHASE EPITAXY
Macrander, A.T. ; Strege, K.
出版情報: Layered structures and epitaxy : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.115-120,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 56
5.

国際会議録
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5. RELATIVE LATTICE PARAMETER MEASUREMENT IN QUATERNARY (InGaAsP) LAYERS ON InP SUBSTRATES USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION
Twigg, M.E. ; Chu, S.N.G. ; Joy, D.C. ; Maher, D.M. ; Macrander, A.T. ; Nakahara, S. ; Chin, A.K.
出版情報: Materials characterization : symposium held April 15-17, 1986, Palo Alto California, U.S.A..  pp.147-152,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 69
6.

国際会議録
国際会議録
6. Use of Kirkpatrick-Baez multilayer optics for x-ray fluorescence imaging
Bakulin, A. ; Durbin, S.M. ; Liu, C. ; Erdmann, J. ; Macrander, A.T. ; Jach, T.
出版情報: Crystal and multilayer optics : 21-22 July, 1998, San Diego, California.  pp.218-223,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3448
7.

国際会議録
国際会議録
7. Synchrotron x-ray study of multilayers in Laue geometry
Kang, H.C. ; Stephenson, G.B. ; Liu, C. ; Conley, R. ; Macrander, A.T. ; Maser, J. ; Bajt, S. ; Chapman, H.N.
出版情報: X-ray sources and optics : 2-3 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.127-132,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5537
8.

国際会議録
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8. Design and analysis of a cooled z-shaped germanium x-ray monochromator
Li, Y. ; Khounsary, A.M. ; Narayanan, S. ; Macrander, A.T. ; Khachatryan, R. ; Lurio, L.B.
出版情報: X-ray sources and optics : 2-3 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.189-193,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5537
9.

国際会議録
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9. Open-faced z-shaped channel-cut x-ray monochromator
Khachatryan, R. ; Tkachuk, A. ; Chu, Y.S. ; Qian, J. ; Macrander, A.T.
出版情報: X-ray sources and optics : 2-3 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.171-176,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5537
10.

国際会議録
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10. Small-d-spacing WSi2/Si narrow bandpass multilayers
Liu, C. ; Conley, R. ; Macrander, A.T. ; Graber, T.J. ; Morawe, C. ; Borel, C. ; Dufresne, E.M.
出版情報: X-ray sources and optics : 2-3 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.154-160,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5537