1.

国際会議録
国際会議録
1. Nanoscale Deep Level Defect Correlation with Schottky Barriers in 4H-SiC/Metal Diodes
Tumakha, S.P. ; Porter, L.M. ; Ewing, D.J. ; Wahab, Q. ; Ma, X.Y. ; Sudarshan, T.S. ; Brillson, L.J.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.907-910,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
国際会議録
2. A Study of Inhomogeneous Schottky Diodcs on n-Type 4H-SiC
Ewing, D.J. ; Wahab, Q. ; Tumakha, S.P. ; Brillson, L.J. ; Ma, X.Y. ; Sudarshan, T.S. ; Porter, L.M.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.911-914,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
3.

国際会議録
国際会議録
3. Design of side-pumped Nd:YAG lasers
Liu, Y. ; Fang, G.Z. ; Ma, X.Y. ; Xiao, J.W.
出版情報: High-Power Lasers and Applications II.  pp.481-484,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4914