1.

国際会議録
国際会議録
1. Impact of Halo Implantation on the Lifetime Assessment in Partially Depleted SOI Transistors
M. Galeti ; J. A. Martino ; E. R. Simoen ; C. L. Claeys
出版情報: High purity silicon 9.  pp.351-360,  2006.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 3(4)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Improved Model to Determine the Generation Lifetime in Short Channel SOI nMOSFETs
M. Galeti ; J. A. Martino ; E. Simoen ; C. Claeys
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.387-392,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Improved Model to Determine the Generation Lifetime in Double Gate SOI nMOSFETs
M. Galeti ; J. A. Martino ; E. Simoen ; C. Claeys
出版情報: Microelectronics Technology and Devices : SBMICRO 2007.  pp.343-352,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 9(1)