1.

国際会議録

国際会議録
Plant,D.V. ; J.A.Trezza,Sanders ; Venditti,M.B. ; Laprise,E. ; Faucher,J. ; Razavi,K. ; Chateauneuf,M. ; Kirk,A.G. ; Luo,W.
出版情報: Optics in computing 2000 : 18-23 June 2000, Quebec city, Canada.  pp.1046-1054,  2000.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4089
2.

国際会議録

国際会議録
Chateauneuf,M. ; Venditti,M.B. ; Laprise,E. ; Faucher,J. ; Razavi,K. ; Thomas-Dupuis,F. ; Kirk,A.G. ; Plant,D.V. ; Yamamoto,T. ; J.A.Trezza,Sanders ; Luo,W.
出版情報: Optics in computing 2000 : 18-23 June 2000, Quebec city, Canada.  pp.530-538,  2000.  Bellingham, WA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4089
3.

国際会議録

国際会議録
Lu,H. ; Shen,T. ; Zhou,W. ; Luo,W. ; Yang,H.
出版情報: Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China.  pp.223-227,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3558
4.

国際会議録

国際会議録
Lu,H. ; Yang,H. ; Luo,W. ; Yan,S. ; Feng,Q.
出版情報: Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China.  pp.228-233,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3558
5.

国際会議録

国際会議録
Yan,S. ; Lu,H. ; Zhou,W. ; Luo,W. ; Yang,H.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.301-305,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
6.

国際会議録

国際会議録
Luo,W. ; Lu,H. ; Xu,T. ; Chen,Z.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.306-309,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
7.

国際会議録

国際会議録
Wang,S. ; Ding,A. ; Qiu,P. ; He,X. ; Luo,W.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.454-457,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
8.

国際会議録

国際会議録
Luo,W. ; Zarki,M.El
出版情報: Integration issues in large commercial media delivery systems : 23-24 October 1995, Philadelphia, Pennsylvania.  pp.154-161,  1996.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2615
9.

国際会議録

国際会議録
Luo,W. ; Zarki,M.El
出版情報: Digital video compression : algorithms and technologies 1996 : 31 January-2 February, 1996, San Jose, California.  pp.356-364,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2668
10.

国際会議録

国際会議録
Niu,W. ; Jia,Y. ; Li,H. ; Na,X. ; Xie,J. ; Zhang,F. ; Luo,W. ; Zhou,Y. ; Yu,J.
出版情報: International Conference on Sensor Technology (ISTC 2001).  pp.204-206,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4414