1.

国際会議録
国際会議録
1. Measurement and Modelling of SOI MOSFETs Capacitances
Tomaszewski, D. ; Lukasiak, L. ; Gibki, J. ; Domanski, K. ; Jakubowski, A. ; Zareba, A.
出版情報: Proceedings of the Eleventh International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices : (December 11-15, 2001).  VOL-1  pp.725-728,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4746
2.

国際会議録
国際会議録
2. DC and AC models of partially-depleted SOI MOSFETs in weak inversion
Tomaszewski, D. ; Domanski, K. ; Lukasiak, L. ; Zareba, A. ; Gibki, J. ; Jakubowski, A.
出版情報: Progress in SOI structures and devices operating at extreme conditions.  pp.289-298,  2002.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 58
3.

国際会議録
国際会議録
3. Feasibility of surface photovoltage based characterization of ultra-thin SOI wafers
Lukasiak, L. ; Kamieniecki, E. ; Jakubowski, A. ; Ruzyllo, J.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.425-430,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
4.

国際会議録
国際会議録
4. Characterization of Thin Dielectric Layers using the Non-Contact Surface Charge Profiler (SCP) Method
Roman, P. ; Lee, D.D. ; Wang, J. ; Mumbauer, P. ; Grant, R. ; Tower, J. ; Kamieniecki, E. ; Lukasiak, L. ; Ruzyllo, aud J.
出版情報: Fundamental gas-phase and surface chemistry of vapor-phase deposition II and process control, diagnostics, and modeling in semiconductor manufacturing IV : proceedings of the international symposium.  pp.207-212,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-13