1.

国際会議録

国際会議録
Sood, A. K. ; Egerton, E. J. ; Bhadra, S. K. ; Puri, Y. R. ; Brill, G. ; Wijewarnasuriya, P. S. ; Chan, Y. ; Dhar, N. K. ; Tidrow, M. Z. ; Christian, D. ; LoVecchio, P.
出版情報: Infrared detector materials and devices : 4-5 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.15-26,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5564
2.

国際会議録

国際会議録
LoVecchio, P. ; Wong, K. ; Parodos, T. ; Tobin, S. P. ; Hutchins, M. A. ; Norton, P. W.
出版情報: Infrared detector materials and devices : 4-5 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.65-72,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5564
3.

国際会議録

国際会議録
Reine, M. B. ; Tobin, S. P. ; Norton, P. W. ; LoVecchio, P.
出版情報: Infrared detector materials and devices : 4-5 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.54-64,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5564
4.

国際会議録

国際会議録
Reine, M. B. ; Tobin, S. P. ; Norton, P. W. ; LoVecchio, P.
出版情報: Infrared technology and applications XXXI : 28 March-1 April 2005, Orlando, Florida, USA.  pp.211-222,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5783