1.

国際会議録

国際会議録
Liu, Y ; Hebb, J.
出版情報: Advanced short-time thermal processing for Si-based CMOS devices : proceedings of the international symposium.  pp.25-34,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-14
2.

国際会議録

国際会議録
Chang, Y. ; Liu, Y ; Liang, P. ; He, J.
出版情報: Atmospheric and environmental remote sensing data processing and utilization : numerical atmospheric prediction and environment monitoring : 1-4 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.589009-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5890
3.

国際会議録

国際会議録
Liu, H ; He, Shiyu ; Wei, Q ; Yang, D ; Liu, Y ; Wang, H ; Abraimov, W.
出版情報: Proceedings of the 9th International Symposium on Materials in Space Environment : 16-20 June 2003, Noordwijk, The Netherlands.  pp.687-692,  2003.  Noordwijk.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 540
4.

国際会議録

国際会議録
Liu, Y
出版情報: Proceedings from the tenth Meeting of the Symposium on Polymers for Microelectronics [May 8th, 9th, & 10th, 2002].  pp.651-654,  2002.  [S.l.].  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-16
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Liu, Y ; Gong, J ; Cai, L ; Deng, J.E.Y ; Tan, L.
出版情報: 2007 SAE world congress : technical paper.  2007.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2007
6.

国際会議録

国際会議録
Zhang, X. ; Liu, Y ; Hu, L ; Lu, C ; Zhao, Z
出版情報: 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  pp.61502V-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6150
7.

国際会議録

国際会議録
Wang, X. ; Xu, D. ; Tan, M. ; Liu, Y
出版情報: 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  pp.61504V-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6150
8.

国際会議録

国際会議録
Chu, C. W. ; Tsao,B ; Chiou, K. ; Lee, S. ; Huang, J. ; Liu, Y ; Lin,T ; Moore A ; Pang,L
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.61543O-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
9.

国際会議録

国際会議録
Vaschenko, G ; Brizuela, F ; Brewer, C ; Larotonda, M A ; Wang, Y ; Luther, B M ; Marconi, M C ; Rocca, J J ; Menoni, C S ; Chao, W ; Anderson, E H ; Liu, Y ; Attwood, D T
出版情報: Emerging Lithographic Technologies X.  pp.61510X-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6151
10.

国際会議録

国際会議録
Liu, Y ; Li, B. ; Zhai, Y ; Wang, A.
出版情報: 2nd International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Optical Test and Measurement Technology and Equipment.  pp.61501F-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6150