1.

国際会議録
国際会議録
1. Observation of Bulk-Trap Induced Generation-Recombination Noise in the Fully Depleted SOI MOSFET
Lun, Z. ; Ang, D.S. ; Ling, C.H.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.259-264,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
2.

国際会議録
国際会議録
2. Gate-to Drain Capacitance as a Monitor for Hot-Carrier Degradation in Sbmictometer MOSFETs
Ling, C.H.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.101-117,  1997.  Pennington, New Jersey.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-10