1.

国際会議録
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1. Method for measuring the rotatory power of a chiral medium
Su, D.-C. ; Hsu, C.-C. ; Lin, J.-Y. ; Lee, J.-Y.
出版情報: Biophotonics instrumentation and analysis : 28-29 November 2001, Singapore.  pp.28-35,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4597
2.

国際会議録
国際会議録
2. A method for measuring the complex refractive index of a turbid medium [5856-140]
Jian, Z.-C. ; Lin, J.-Y. ; Hsieh, P.-J. ; Chen, H.-W. ; Su, D.-C.
出版情報: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV.  pp.1036-1044,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5856
3.

国際会議録
国際会議録
3. The developoment of soft x-ray lasers in IAMS [5919-30]
Chou, M.-C. ; Chu, H.-H. ; Tsai, H.-E. ; Lin, P._H. ; Yang, L.-S. ; Chen, D.-L. ; Lee, C.-H. ; Lin, J.-Y. ; Wang, J. ; Chen, S.-Y.
出版情報: Soft X-Ray Lasers and Applications VI.  pp.59190T-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5919
4.

国際会議録
国際会議録
4. Measurements of material refractive index with a circular heterodyne interferometer [5856-74]
Jian, Z.-C. ; Lin, J.-Y. ; Hsieh, P.-J. ; Su, D.-C.
出版情報: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IV.  pp.882-892,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5856
5.

国際会議録
国際会議録
5. Novel diffraction-based spectroscopic method for overlay metrology
Yang, W. ; Lowe-Webb, R. ; Rabello, S. ; Hu, J. ; Lin, J.-Y. ; Heaton, J.D. ; Dusa, M.V. ; Boef, A.J. ; Schaar, M. ; Hunter, A.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII.  1  pp.200-207,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5038