1.

国際会議録
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1. INTERFACIAL REACTIONS BETWEEN Co AND GaAs
Shiau, F.-Y. ; Zuo, Y. ; Zheng, X.-Y. ; Lin, J.-C. ; Chang, Y.A.
出版情報: Adhesion in solids : symposium held April 5-7, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.171-176,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 119
2.

国際会議録
国際会議録
2. Composite Membranes for Fuel Cell Operation at Higher Temperature
Lin, J.-C. ; Fenton, J.M. ; Kunz, H.R. ; Cutlip, M.B.
出版情報: Power sources for the new millennium : proceedings of the international symposium.  pp.48-63,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-22
3.

国際会議録
国際会議録
3. Temperature effect on the characteristics of DC magnetron-sputtered ITO films
Hsu, C.-0M. ; Lee, J.-W. ; Chen, J.-S. ; Huang, C.-Y. ; Lin, J.-C.
出版情報: Materials, Devices, and Systems for Display and Lighting.  pp.135-143,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4918
4.

国際会議録
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4. A high-resolution contamination-mode inspection method providing a complete solution to the inspection challenges for advanced photomasks
Bhattacharyya, K. ; Huang, Y.-T. ; Son, K. ; Wang, D. ; Liu, L. ; Liao, C.H. ; Dai, Y.-M. ; Lin, J.-C.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.744-752,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375
5.

国際会議録
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5. High-resolution reticle inspection technique providing a complete reticle qualification solution in advanced 90-nm node wafer fabs
Liu, L. ; Liao, C.-H. ; Dai, Y.-M. ; Lin, J.-C. ; Bhattacharyya, K. ; Huang, Y.-T. ; Son, K. ; Wang, D.
出版情報: 23rd Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.431-439,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5256