1.

国際会議録
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1. Correlation between Leakage Current and Ion-Irradiation Induced Defects in 4H-SiC Schottky Diodes
Raineri, V. ; Roccaforte, F. ; Libertino, S. ; Ruggiero, A. ; Massimino, V. ; Calcagno, L.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 2005 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 2005 : Pittsburgh, Pennsylvania, USA : September 18-23 2005.  pp.1167-1170,  2006.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 527-529
2.

国際会議録
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2. Defect Evolution in Ion Implanted Silicon
Benton, J.L. ; Libertino, S. ; Eaglesham, D.J. ; Coffa, S.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Symposium on High Purity Silicon V.  pp.328-340,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-13
3.

国際会議録
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3. Ion-Beam-Injected Point Defects in Crystalline Silicon: Migration, Interaction, and Trapping Phenomena
Priolo, F. ; Privitera, V. ; Coffa, S. ; Libertino, S.
出版情報: Microstructure evolution during irradiation : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.71-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 439
4.

国際会議録
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4. The Effect of Impurity Content and Ion Mass on the Depth Profiles of Vacancy-Type Defects in MeV-Implanted Si
Libertino, S. ; Coffa, S. ; Privitera, V. ; Priolo, F.
出版情報: Microstructure evolution during irradiation : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.83-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 439
5.

国際会議録
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5. Point Defects Migration and Agglomeration in Si at Room Temperature: The Role of Surface and Impurity Content
Privitera, V. ; Coffa, S. ; Larsen, K. Kyllesbech ; Libertino, S. ; Mannino, G. ; Priolo, F.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.163-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
6.

国際会議録
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6. The Effect of the Extra Ion on Residual Damage in MeV-Implanted Si
Libertino, S. ; Benton, J. L. ; Coffa, S. ; Jacobson, D. C. ; Eaglesham, D. J. ; Poate, J. M. ; Lavalle, M. ; Fuochi, P. G.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.187-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
7.

国際会議録
国際会議録
7. Characterization of Interstitial Defect Clusters in Ion-Implanted Si
Benton, J. L. ; Libertino, S. ; Coffa, S. ; Eaglesham, D. J.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.193-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
8.

国際会議録
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8. Ion-Beam Injected Point Defects in Crystalline Silicon: Migration, Interaction and Trapping Phenomena
Priolo, F. ; Privitera, V. ; Coffa, S. ; Libertino, S.
出版情報: Materials modification and synthesis by ion beam processing : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.53-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 438
9.

国際会議録
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9. The Effect of Impurity Content and Ion Mass on the Depth Profiles of Vacancy-Type Defects in MeV-Implanted Si
Libertino, S. ; Coffa, S. ; Privitera, V. ; Priolo, F.
出版情報: Materials modification and synthesis by ion beam processing : symposium held December 2-5, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.65-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 438
10.

国際会議録
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10. The Effects of Impurity Co-Doping on the Electrical Properties of Erbium Ions in Crystalline silicon
Libertino, S. ; Coffa, S. ; Mosca, R. ; Gombia, E.
出版情報: Rare earth doped semiconductors II : symposium held April 8-10, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.113-,  1996.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 422