1.

国際会議録
国際会議録
1. Influence of Ni Excess on Structure and Shape-Memory Effect of Polycrystalline Ni2MnGa Alloys
Liang, T. ; Jiang, C.B. ; Feng, G. ; Gong, S.K. ; Xu, H.B.
出版情報: Shape memory materials and its applications : proceedings of the International Conference on Shape Memory and Superelastic Technologies and Shape Memory Materials (SMST-SMM 2001), held in Kunming, China, September 2 to 6 2001.  pp.561-564,  2002.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 394-395
2.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
2. 3-D navier-stokes simulation of turbulent afterbody/nozzle flows
Hamed, A. ; Yeuan, J.J. ; Liang, T.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-10,  1998.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1998
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Viscous flow simulations in a transonic fan using ｦﾊ-ｦﾅ and algebraic turbulence models
Yeuan, J.J. ; Liang, T. ; Hamed, A.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-11,  1998.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1998
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. A 3-D Navier-Stokes solver for turbomachinery blade rows
Yeuan, J.J. ; Liang, T. ; Hamed, A.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-14,  1996.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA/ASME/SAE/ASEE Joint Propulsion Conference and Exhibit
シリーズ巻号: 1996
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Three-dimensional Navier-Stokes computations of transonic fan flow using an implicit solver
Liang, T. ; Yeuan, J.J.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-10,  1997.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1997
6.

国際会議録
国際会議録
6. Evaluation of the capability of a multibeam confocal inspection system for inspection of EUVL mask blanks
Stivers, A.R. ; Liang, T. ; Penn, M.J. ; Lieberman, B. ; Shelden, G.V. ; Folta, J.A. ; Larson, C.C. ; Mirkarimi, P.B. ; Walton, C.C. ; Gulliksong, E.M. ; Yi, M.
出版情報: 22nd Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  Part One  pp.408-417,  2002.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4889
7.

国際会議録
国際会議録
7. Pattern inspection of EUV masks using DUV light
Liang, T. ; Tejnil, E. ; Stivers, A.R.
出版情報: 22nd Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  Part Two  pp.1065-1072,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4889
8.

国際会議録
国際会議録
8. Use of nanomachining for subtractive repair of EUV and other challenging mask defects
Brinkley, D. ; White, R. ; Bozak, R. ; Liang, T. ; Liu, G.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology IX.  pp.900-911,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4754
9.

国際会議録
国際会議録
9. E-beam mask repair: fundamental capability and applications
Liang, T. ; Frendberg, E. ; Bald, D. J. ; Penn, M. ; Stivers, A. R.
出版情報: 24th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.456-466,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5567
10.

国際会議録
国際会議録
10. Inspection of EUV reticles
Pettibone, D.W. ; Veldman, A. ; Liang, T. ; Stivers, A.R. ; Mangat, P.J. ; Lu, B. ; Hector, S.D. ; Wasson, J.R. ; Bleadel, K.L. ; Fisch, E. ; Walker, D.M.
出版情報: Emerging Lithographic Technologies VI.  Part One  pp.363-374,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4688