1.

国際会議録

国際会議録
Lee,M. ; Li,C.-T. ; Deaver,B.S.,Jr. ; Weikle,R.M. ; Rao,R.A. ; Eom,C.B.
出版情報: Superconducting and related oxides, physics and nanoengineering III : 20-24 July, 1998, San Diego, California.  pp.448-456,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3481
2.

国際会議録

国際会議録
Yu,F.T.S. ; Yin,S. ; Li,C.-T.
出版情報: Optical pattern recognition XI : 26-27 April, 2000, Orlando, Florida.  pp.108-116,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4043
3.

国際会議録

国際会議録
Varadan,V.V. ; Tellakula,A.R. ; Hollinger,R.D. ; Li,C.-T. ; Varadan,V.K.
出版情報: Subsurface sensing Technologies and Application II : 31 July-3 August 2000, San Diego, USA.  pp.352-358,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4129
4.

国際会議録

国際会議録
Hollinger,R.D. ; Tellakula,A.R. ; Li,C.-T. ; Varadan,V.V. ; Varadan,V.K.
出版情報: Micromachined Devices and Components V.  pp.54-62,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3876