1.

国際会議録
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1. Corrosion Behavior of Chromium Cast Iron and Steel in Hot Concentrated Alkaline
Tu, X. ; Liu, J. ; Li, W. ; Su, J.
出版情報: Eco-materials processing & design VII : proceedings of the Conference of the 7th International Symposium on Eco-materials Processing & Design, January 8-11 2006, Chengdu, China.  pp.174-177,  2006.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 510-511
2.

国際会議録
国際会議録
2. Modeling runoff and soil water balance under mechanized conservation tillage in dry land of north China [5884-24]
Wang, X. ; Li, H. ; Gao, H. ; Du, B. ; Li, W.
出版情報: Remote sensing and modeling of ecosystems for sustainability II : 2-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58840K-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5884
3.

国際会議録
国際会議録
3. ORDERING AND ENERGETICS OF Hg OVEELAYERS ON Cu(001)
Hutchings, C.W. ; Dowben, P.A. ; Kime, Y.J. ; Li, W. ; Karimi, M. ; Moses, C. ; Vidali, G.
出版情報: Atomic scale structure of interfaces : symposium held November 27-29, 1989, Boston Massachusetts, U.S.A..  pp.133-140,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 159
4.

国際会議録
国際会議録
4. Measurement of residual stress in multilayered thin films by a full-field optical method [6032-21]
Nie, M. ; Huang, -A. Q. ; Li, W.
出版情報: ICO20 : MEMS, MOEMS, and NEMS : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.60320L-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6032
5.

国際会議録
国際会議録
5. The universal cloud detection algorithm of MODIS data [6419-15]
Li, W. ; Li, D.
出版情報: Geoinformatics 2006 : Remotely sensed data and information : 28-29 October 2006, Wuhan, China.  pp.64190F-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6419
6.

国際会議録
国際会議録
6. GROWTH CONDITION DEPENDENCE OF RHEED PATTERN FROM GaAs(111)B SURFACE
Yang, K. ; Li, W. ; Taylor, A. P. ; Xiao, Q. -F. ; Schowalter, L. J. ; Laurich, B. K. ; Smith, D. L.
出版情報: Materials for optical information processing : symposium held May 1-3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.261-266,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 228
7.

国際会議録
国際会議録
7. SUBSTRATE ENGINEERING WITH FLUORIDE BUFFER LAYERS ON Si
Taylor, A.P. ; Li, W. ; Xiao, Q.-F. ; Schowalter, L.J.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.537-544,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
8.

国際会議録
国際会議録
8. Characterisation of Residual Stresses in Machined Surfaces of a High Strength Nickel-Base Superalloy
Li, W. ; Preuss, M. ; Withers, P.J. ; Axinte, D. ; Andrews, P.
出版情報: Residual stresses VII : ECRS 7 : proceedings of the 7th European conference on residual stresses, Berlin, Germany, 13-15 September 2006.  pp.587-594,  2006.  Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 524-525
9.

国際会議録
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9. The importance of nonstoichiometric oxygen in NiO for the catalytic oxidative dehydrogenation of ethane
Chen, T. ; Li, W. ; Yu, C. ; Jin, R. ; Xu, H.
出版情報: 12th International Congress on Catalysis : proceedings of the 12th ICC, Granada, Spain, July 9-14, 2000.  pp.1847-,  2000.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 130
10.

国際会議録
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10. Origin of improved luminescence efficiency after annealing of Ga(In)Nas materials grown by molecular beam epitaxy
Li, W. ; Pessa, M. ; Ahlgren, T. ; Dekker, J.
出版情報: Photodetector materials and devices VII : 21-23 January 2002, San Jose, USA.  pp.207-212,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4650