1.

国際会議録

国際会議録
Cohen, R. M. ; Chen, C. Y. ; Li, W. M. ; Simons, D. S. ; Chi, P. H.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.959-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
2.

国際会議録

国際会議録
Cohen, R. M. ; Chen, C. Y. ; Li, W. M. ; Simons, D. S. ; Chi, P. H.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.875-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
3.

国際会議録

国際会議録
Du, H. ; Qian, X. M. ; Li, W. M. ; Liu, F. Q. ; Tang, J. ; Tang, X. Y. ; Bai, Y. B. ; Li, T. J.
出版情報: Surface-controlled nanoscale materials for high-added-value applications : symposium held November 30-December 3, 1997, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.221-,  1998.  Warrendale, Penn.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 501