1.

国際会議録

国際会議録
Ellison,A. ; Kimoto,T. ; Ivanov,I.G. ; Wahab,Q. ; Henry,A. ; Kordina,O. ; Zhang,J. ; Hemmingsson,C.G. ; Gu,C.-Yu. ; Leys,M.R. ; Janzen,E.
出版情報: Silicon carbide, III-nitrides and related materials, ICSCIII-N'97 : proceedings of the International Conference on Silicon Carbide, III-Nitrides and Related Materials, Stockholm, Sweden, September 1997.  Part1  pp.103-106,  1998.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 264-268
2.

国際会議録

国際会議録
Henning,J.C.M. ; Kessener,Y.A.R.R. ; Koenraad,P.M. ; Leys,M.R. ; Vleuten,W.C.van der ; Wolter,J.H. ; Frens,A.M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.653-656,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
3.

国際会議録

国際会議録
Dorren,B.H.P. ; Silov,A.Yu. ; Leys,M.R. ; Haverkort,J.E.M. ; Wolter,J.H. ; Maat,D.H.P. ; Zhu,Y. ; Oei,Y.S. ; Groen,F.H.
出版情報: Optics in Computing '98.  pp.374-377,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3490