1.

国際会議録
国際会議録
1. THERMAL ANNEALING OF RADIATION-INDUCED TRAPPED CHARGE IN SIMOX AND THERMAL OXIDE THIN FILMS
Herve, D. ; Paillet, Ph. ; Leray, J.L.
出版情報: Amorphous insulating thin films : symposium held December 1-4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.287-292,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 284
2.

国際会議録
国際会議録
2. Single Event Upset Sensitivity of a SRAM: An Overview from Testing Procedures to Device Hardening
Musseau, O. ; Leray, J.L. ; Coic, Y.M. ; Patin, Y.
出版情報: Proceedings of the ESA Electronic Components Conference, held at the Conference Centre, ESTEC, Noordwijk, the Netherlands, 12-16 November 1990.  pp.351-356,  1991.  Paris.  ESA Publications Division
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 313
3.

国際会議録
国際会議録
3. Effect of supplemental dose in SIMOX on very high ionizing dose response
Flament, O. ; Paillet, P. ; Leray, J.L. ; Aspar, B. ; Giffard, B. ; Auberton-Herve, A.J.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.381-389,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11