1.

国際会議録
国際会議録
1. Formation and Annihilation of Epitaxial Stacking Faults Generated from Pre-Existing Nucleation Sites in Silicon
Cho,C.R. ; Noh,K.Y. ; Lee,D.H. ; Kim,Y.S. ; Ko,S.W. ; Kim,C.W. ; Kim,D.H. ; Son,C.B. ; Kim,S.J. ; Cho,D.H. ; Choi,J.J. ; Kim,D.J. ; Bae,K.M. ; Rozgonyi,G.A.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.201-208,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
2.

国際会議録
国際会議録
2. HIS/RIS/PACS integration toward total hospital information system
Kim,J.H. ; Han,M.C. ; Yeon,K.M. ; Lee,D.H. ; Cho,H.I.
出版情報: Medical imaging 1997, PACS design and evaluation : engineering and clinical issues : 25-28 February 1997, Newport Beach, California.  pp.20-28,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3035
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Measurement and Modeling of Combustion in a Microcombustor
Lee,D.H. ; Choi,K.H. ; Kwon,S.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-8,  2001.  Reston, VA.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : AIAA Thermophysics Conference
シリーズ巻号: 2001
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. A Study on the Dynamic Characteristics of an Epicyclic Gear Train With Journal Bearing
Cheon,G.J. ; Lee,D.H. ; Ryu,H.T. ; Kim,J.H. ; Han,D.C.
出版情報: Transmission and driveline systems symposium.  pp.249-256,  1999.  Warrendale, Pa..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: SAE special publication
シリーズ巻号: SP-1440
5.

国際会議録
国際会議録
5. Enhanced visualization of MR angiogram with modified MIP and 3D image fusion
Kim,J.H. ; Yeon,K.M. ; Han,M.C. ; Lee,D.H. ; Cho,H.I.
出版情報: Medical Imaging 1997: Image Display.  pp.31-36,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3031
6.

国際会議録
国際会議録
6. Defects analysis of mask blanks
Lee,D.H. ; Kim,D.W. ; Lee,J.K. ; Jeong,W.G. ; Choi,S.-S. ; Jung,S.-M. ; Jeong,S.-H.
出版情報: 21st Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  4562  pp.571-576,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4562
7.

国際会議録
国際会議録
7. Neural net classification of liver ultrasonogram for quantitative evaluation of diffuse liver disease
Lee,D.H. ; Kim,J.H. ; Kim,H.C. ; Lee,Y.W. ; Min,B.G.
出版情報: Medical Imaging 1997: Image Processing.  Part2  pp.999-1004,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3034
8.

国際会議録
国際会議録
8. Surface modification by plasma immersion ion processing
Walter,K.C. ; Lee,D.H. ; He,X.M. ; Baker,N.P. ; Nastasi,M. ; Munson,C.P. ; Scarborough,W.K. ; Taszewski,M. ; Wood,B.P.
出版情報: Materials Modification by Ion Irradiation.  pp.156-164,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3413
9.

国際会議録
国際会議録
9. Evaluation of reticle cleaning performance with different drying methods for high-grade photomasks
Jeong,W.G. ; Lee,S.W. ; Kim,D.H. ; Yoon,Y.J. ; Lee,D.H. ; Choi,B.Y. ; Choi,S.-S. ; Jung,S.M. ; Jeong,S.-H.
出版情報: 21st Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  4562  pp.99-110,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4562
10.

国際会議録
国際会議録
10. Electrical performance analysis of IC package for the high-end memory device(Invited Paper)
Lee,D.H. ; Han,C.M.
出版情報: Microelectronic Packaging and Laser Processing.  pp.86-94,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3184