1.

国際会議録

国際会議録
Cheng, Y.L. ; Lee, Y.W.
出版情報: Progress on advanced manufacture for micro/nano technology 2005 : proceedings of the 2005 International Conference on Advanced Manufacture Taipei, Taiwan, R.O.C. November 28th-December 2nd, 2005.  pp.199-204,  2006.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 505-507
2.

国際会議録

国際会議録
Song, J. B. ; Lee, Y.W. ; Lee, I.W. ; Lee, J.H.
出版情報: Optical manufacturing and testing V : 3-5 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.445-454,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5180
3.

国際会議録

国際会議録
Park, B.C. ; Lee, Y.W. ; O, B.-h.
出版情報: Scattering and surface roughness II : 21-23 July 1998, San Diego, California.  pp.371-379,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3426
4.

国際会議録

国際会議録
Chegal, W. ; Cho, Y.J. ; Kim, H.J. ; Cho, H.M. ; Lee, Y.W. ; Kim, S.H.
出版情報: Imaging spectrometry X : 2-4 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.400-405,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5546
5.

国際会議録

国際会議録
Song, J.B. ; Lee, Y.W. ; Lee, I.W. ; Lee, J.H.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.177-185,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
6.

国際会議録

国際会議録
Kim, H.J. ; Cho, Y.J. ; Cho, H.M. ; Chegal, W. ; Lee, Y.W. ; Kim, S.Y.
出版情報: Optical constants of materilas for UV to x-ray wavelengths : 4-5 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.165-171,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5538
7.

国際会議録

国際会議録
Song, J.S. ; Lee, Y.W. ; Cho, H.M. ; Park, S.N. ; Lee, I.W. ; Jo, J.H.
出版情報: Optical design and testing : 15-18 October 2002, Shanghai, China.  pp.404-412,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4927
8.

国際会議録

国際会議録
Lee, Y.W. ; Yoon, S.M. ; Lim, J.J. ; Hu, Y. ; Kim, C.G. ; Kim, C.O.
出版情報: Designing, processing and properties of advanced engineering materials : proceedings of the 3rd International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials, held in Jeju, Korea, November 5-8, 2003.  pp.1053-1056,  2004.  Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 449-452
9.

国際会議録

国際会議録
Lee, J.H. ; Lee, S.J. ; Kyong, C.S. ; Song, J.B. ; Lee, Y.W. ; Kwak, C.H.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications : 15-17 October 2002, Shanghai, China.  pp.302-310,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4924
10.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Han, Y.H. ; Lee, Y.W.
出版情報: 2002 SAE world congress : technical paper.  2002.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2002