1.

国際会議録
国際会議録
1. The dry laser cleaning of photoresist residues on Si and ITO substrate
Lee, K. C. ; Lee, C.
出版情報: Fifth International Symposium on Laser Precision Microfabrication : 11-14 May, 2004, Nara, Japan.  pp.458-463,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5662
2.

国際会議録
国際会議録
2. (8.3) 4:55 - 5: 15 PM - Low Temperature SiGe Process for Defect-Free Epitaxy and Smooth Morphology
Yao, L. G. ; Lee, K. C. ; Chen, S. C. ; Liang, M. S. (TSMC)
出版情報: SiGe: materials, processing, and devices : proceedings of the First international symposium.  pp.581-588,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-07
3.

国際会議録
国際会議録
3. Annealing Effects on the Structural Properties of Gold Films on Si by the RF Magnetron Sputtering
Lee, K. C. ; Kim, N. H. ; O, B. H. ; Kim, H. W.
出版情報: PRICM 5 : the Fifth Pacific Rim International Conference on Advanced Materials and Processing, November 2-5, 2004, Beijing, China.  pp.3923-3926,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 475-479(5)