1.

国際会議録
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1. PROTON IRRADIATION-INDUCED DISORDERING REACTIONS, DUCTILITY AND STRENGTHENING OF Ni3Al
Cheng, J. ; Lee, C.-S. ; Wagner, C.N.J. ; Ardell, A.J.
出版情報: High-Temperature ordered intermetallic alloys III : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.499-504,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 133
2.

国際会議録
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2. MEMS-based micro instruments for in-situ planetary exploration (Keynote Paper)
George, T. ; Urgiles, E. ; Toda, R. ; Wilcox, J. Z. ; Douglas, S. ; Lee, C.-S. ; Son, K. ; Miller, D. ; Myung, N. ; Madsen, L. ; Leskowitz, G. ; El-Gammal, R. ; Weitekamp, D.
出版情報: Smart sensors, actuators, and MEMS II : 9-11 May 2005, Seville, Spain.  pp.188-199,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5836
3.

国際会議録
国際会議録
3. Gate Oxide Integrity in DRAM Devices: The Influence of Substrate D-Defects
Park, J.-G. ; Rozgonyi, G.A. ; Lee, C.-S. ; Choi, S.-P.
出版情報: ULSI science and technology, 1995 : proceedings of the Fifth International Symposium on Ultra Large Scale Integration Science and Technology.  pp.457-471,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-5
4.

国際会議録
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4. Effect of H2 Annealing on Oxide Integrity Improvement
Ushio, S. ; Cho, K.-C. ; Lee, C.-S.
出版情報: ULSI science and technology, 1995 : proceedings of the Fifth International Symposium on Ultra Large Scale Integration Science and Technology.  pp.444-456,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-5
5.

国際会議録
国際会議録
5. Catalytic activity and characterization of quaternary ammonium-(methylstyrene-co-styrene) resin in an organic solvent/alkaline solution
Wu, H.-S. ; Lee, C.-S.
出版情報: Reaction kinetics and the development and operation of catalytic processes : proceedings of the 3rd International Symposium, Oostende, Belgium, April 22-25, 2001.  pp.429-434,  2001.  Amsterdam.  Elsevier
シリーズ名: Studies in surface science and catalysis
シリーズ巻号: 133
6.

国際会議録
国際会議録
6. Improved characteristics of rainbow defects with novel wafer edge exposure technique
Shim, K.-C. ; Kim, M.-S. ; Lee, E.-S. ; Lee, C.-S. ; Gil, M.-G. ; Kim, B.-H. ; In, J.-S. ; Yoon, T.-B. ; Kim, J.-S.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI.  Part Two  pp.919-926,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4689
7.

国際会議録
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7. Application of new thin BARC technology for KrF lithography at 80-nm node device
Kim, M.-S. ; Shim, K.-C. ; Kim, H.-J. ; Kwon, K.-S. ; Lee, H.-G. ; Lee, C.-S. ; Gil, M.-G. ; Song, Y.-W.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XXI.  pp.724-728,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5376
8.

国際会議録
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8. Diffusion parameter analysis for chemical amplification resists as a function of resist process
Kim, M.-S. ; Paek, S.-W. ; Kwak, D.-S. ; Kim, H.-J. ; Lee, C.-S. ; Gil, M.-G. ; Song, Y.-W.
出版情報: Advances in Resist Technology and Processing XX.  2  pp.1242-1247,  2003.  Bellingham, CA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5039
9.

国際会議録
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9. A new design of 4xIOGb/s transceiver module for ethernet applications
Shen, K.-Y. ; Chang, Y.-J. ; Chiu, C.-H. ; Lee, C.-S. ; Huang, M.-F. ; Tsai, C.-H. ; Shaw, C.-D. ; Chen, Y.-C. ; Lee, S.-G. ; Yu, Y.-C. ; Chu, M.-T.
出版情報: Optical Transmission, Switching, and Subsystems II.  pp.1177-1188,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5625