1.

国際会議録

国際会議録
Budde,M. ; Nielsen,B.Bech ; Leary,P. ; Goss,J. ; Jones,R. ; Briddon,P.R. ; Oberg,S. ; Breuer,S.J.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.35-40,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録

国際会議録
Hoffmann,L. ; Bach,J.C. ; Hansen,J.Lundsgaard ; Larsen,A.Nylandsted ; Nielsen,B.Bech ; Leary,P. ; Jones,R. ; Oberg,S.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.97-102,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録

国際会議録
Leary,P. ; Oberg,S. ; Briddon,P.R. ; Jones,R.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.264-270,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
4.

国際会議録

国際会議録
Jones,R. ; Oberg,S. ; Leary,P. ; Torres,V.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.785-790,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201