1.

国際会議録

国際会議録
Street,R.A. ; Apte,R.B. ; Boyce,J.B. ; Ho,J. ; Lau,R. ; Lemmi,F. ; Lu,J.-P. ; Mulato,M. ; Ready,S.E. ; Schuylenbergh,K.Van
出版情報: Hard X-ray, gamma-ray, and neutron detector physics II : 31 July-2 August 2000, San Diego, USA.  pp.263-273,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4141
2.

国際会議録

国際会議録
Rahn,J.T. ; Lemmi,F. ; Lu,J.-P. ; Mei,P. ; Street,R.A. ; Ready,S.E. ; Ho,J. ; Apte,R.B. ; Schuylenbergh,K.Van ; Lau,R. ; Weisfield,R.L. ; Lujan,R. ; Boyce,J.B.
出版情報: Medical applications of penetrating radiation : 22-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.136-145,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3770
3.

国際会議録

国際会議録
Mulato,M. ; Lemmi,F. ; Lau,R. ; Lu,J.P. ; Ho,J. ; Ready,S.E. ; Rahn,J.T. ; Street,R.A.
出版情報: Medical Imaging 2000: Physics of Medical Imaging.  pp.26-37,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3977
4.

国際会議録

国際会議録
Street,R.A. ; Mulato,M. ; Schieber,M.M. ; Hermon,H. ; Shah,K.S. ; Bennett,P.R. ; Dmitryev,Y. ; Ho,J. ; Lau,R. ; Meerson,E. ; Ready,S.E. ; Reisman,B. ; Sado,Y. ; Schuylenbergh,K.Van ; Vilensky,A.I. ; Zuck,A.
出版情報: Medical Imaging 2001: Physics of Medical Imaging.  pp.1-12,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4320
5.

国際会議録

国際会議録
Fork,D.K. ; Chua,C.L. ; Kim,P. ; Romano,L.T. ; Lau,R. ; Wong,L. ; Alimonda,A. ; Geluz,V. ; Teepe,M. ; Haemer,J. ; Modi,M. ; Zhu,Q. ; Ma,D. ; Sitaraman,S. ; Smith,D.L. ; Mok,S.
出版情報: Micromachined Devices and Components VI.  pp.226-235,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4176