1.

国際会議録

国際会議録
Marinskiy, D. ; Lagowski, J.
出版情報: Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 669
2.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J. ; Smeltzer, R. K.
出版情報: Flat panel display materials II : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.201-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 424
3.

国際会議録

国際会議録
Savtchouk, A. ; Oborina, E. ; Hoff, A.M. ; Lagowski, J.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.755-758,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
4.

国際会議録

国際会議録
Henley, W. ; Ostepenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.265-268,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
5.

国際会議録

国際会議録
Sen, S. ; Hoff, A.M. ; Moradi, B. ; Lagowski, J. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.269-278,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
6.

国際会議録

国際会議録
Hoff, A.M. ; Lagowski, J. ; Nauka, N. ; Esry, T.C. ; Edelman, P. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.544-553,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
7.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Edelman, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.523-532,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
8.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Faifer, V. ; Edelman, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.512-522,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
9.

国際会議録

国際会議録
Faifer, V. ; Edelman, P. ; Kontkiewicz, A. ; Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Dyukov, V. ; Pravdivtsev, A. ; Kornienko, I.
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.73-82,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
10.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.61-67,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35