1.

国際会議録

国際会議録
Kim, J. ; Lee, Y. ; Kwak, S.
出版情報: SAR image analysis, modeling, and techniques VII : 19-20 September 2005, Bruges, Belgium.  pp.59800K-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5980
2.

国際会議録

国際会議録
Nitirahardjo, S. ; Kwak, S. ; Lee, T. ; Lee, S.
出版情報: AIChE 1993 ANNUAL MEETING - ST. LOUIS, MO - NOV. 7-12, 1993.  1993.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1993
3.

国際会議録

国際会議録
Trivedi, A.H. ; Kwak, S. ; Lee, S.
出版情報: AIchE 1994 Annual Meeting : November 13-18 San Francisco Hilton and Towers Hotel, San Francisco, California.  1994.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1994
4.

国際会議録

国際会議録
Trivedi, A.H. ; Kwak, S. ; Lee, S.
出版情報: AIchE 1994 Annual Meeting : November 13-18 San Francisco Hilton and Towers Hotel, San Francisco, California.  1994.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1994
5.

国際会議録

国際会議録
Kwak, S. ; Trivedi, A.H. ; Lee, T.Y. ; Lee, S.
出版情報: AIChE 1993 ANNUAL MEETING - ST. LOUIS, MO - NOV. 7-12, 1993.  1993.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1993
6.

国際会議録

国際会議録
Struzik, Z. R. ; Hayano, J. ; Sakata, S. ; Kwak, S. ; Yamamoto, Y.
出版情報: Fluctuations and noise in biological, biophysical, and biomedical systems II : 26-28 May, 2004, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  pp.283-289,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5467
7.

国際会議録

国際会議録
Soma, R. ; Kwak, S. ; Yamamoto, Y.
出版情報: Fluctuations and noise in biological, biophysical, and biomedical systems : 2-4 June 2003, Santa Fe, New Mexico, USA.  pp.69-76,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5110