1.

国際会議録
国際会議録
1. Disposable biosensor for measuring red blood cell deformability using laser-diffraction technique
Shin, S. ; Ku, Y. ; Park, M. ; Suh, J.
出版情報: Biomedical applications of micro- and nanoengineering II : 13-15 December 2004, Sydney, Australia.  pp.68-77,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5651
2.

国際会議録
国際会議録
2. Utility of Enzymes in Solubilization of Seed and Leaf Proteins
Childs, E. A. ; Forte, J. L. ; Ku, Y.
出版情報: Enzymes in food and beverage processing : a symposium.  pp.304-,  1977.  Washington.  American Chemical Society
シリーズ名: ACS symposium series
シリーズ巻号: 47
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Feasibility Improvement of the Design Space Using Probabilistic Method
Jeon, Y. ; Park, E. ; Kim, Y. ; Jun, S. ; Ku, Y. ; Lee,D.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2004.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 42nd
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. Improvement of Feasibility of Design Space Using Response Surface and Kriging Method
Ku, Y. ; Jeon, Y. ; Kim, J. ; Lee, D.
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2004.  [Reston, Va.].  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Multidisciplinary Analysis and Optimization Conference
シリーズ巻号: 10th
5.

国際会議録
国際会議録
5. Disposable laser-diffraction ektacytometry to measure red blood cell deformability
Shin, S. ; Ku, Y. ; Park, M. ; Zhang, L. ; Jang, J. ; Suh, J.
出版情報: Optics in Health Care and Biomedical Optics: Diagnostics and Treatment II.  pp.168-176,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5630
6.

国際会議録
国際会議録
6. Specifications, methodologies, and results of evaluation of optical critical dimension scatterometer tools at the 90nm CMOS technology node and beyond
Ko, C.-H. ; Ku, Y. ; Smith, N. ; Shyu, D.-M. ; Wang, S.-C. ; Lu, S.-H.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XIX.  pp.304-323,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5752
7.

国際会議録
国際会議録
7. Correlation of scatterometry sensitivities to variation in device parameters [6152-55]
Ko, C. H. ; Ku, Y. ; Smith, N.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.615220-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152