1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of failure mechanisms for oxide VCSELs (Invited Paper)
McHugo, S.A. ; Krishnan, A. ; Krueger, J.J. ; Luo, Y. ; Tan, N.-X. ; Osentowski, T. ; Xie, S. ; Mayonte, M.S. ; Herrick, R.W. ; Deng, Q. ; Heidecker, M. ; Eastley, D. ; Keever, M.R. ; Kocot, C.P.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VII.  pp.55-66,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4994
2.

国際会議録
国際会議録
2. Studies of ESD-related failure patterns of Agilent oxide VCSELs
Krueger, J.J. ; Sabharwal, R. ; McHugo, S.A. ; Nguyen, K. ; Tan, N.-X. ; Janda, N. ; Mayonte, M.S. ; Heidecker, M. ; Eastley, D. ; Keever, M.R. ; Kocot, C.P.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VII.  pp.162-172,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4994