1.

国際会議録
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1. Optical quantum information processing utilizing weak nonlinearities: a little goes a long way (Invited Paper) [5893-17]
Munro, W. J. ; Nermoto, K. ; Spiller, T. P> ; Beausoleil, R. G. ; Kok, P. ; Barrett, S. D.
出版情報: Quantum communications and quantum imaging III : 2-4 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58930I-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5893
2.

国際会議録
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2. Classical and quantum information processing with EIT (Invited Paper)
Beausoleil, R.G. ; Barrett, S.D. ; Kok, P. ; Nemoto, K. ; Munro, W.J. ; Spiller, T.P.
出版情報: Advanced optical and quantum memories and computing II : 25-26 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.143-155,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5735
3.

国際会議録
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3. Quantum lithography
Braunstein, S.L. ; Boto, A.N. ; Kok, P. ; Abrams, D.S. ; Williams, C.P. ; Dowling, J.P.
出版情報: Fluctuations and noise in photonics and quantum optics : 2-4 June, 2003, Santa Fe, New Mexico, USA.  pp.268-272,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5111
4.

国際会議録
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4. Linear optics with projective measurements for fun and profit (Invited Paper)
Kok, P. ; Lee, H. ; Williams, C.P. ; Dowling, J.P.
出版情報: Noise and Information in Nanoelectronics, Sensors, and Standards.  pp.298-307,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5115
5.

国際会議録
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5. Quantum interferometric sensors
DiDomenico, L.D. ; Lee, H. ; Kok, P. ; Dowling, J.P.
出版情報: Quantum Sensing and Nanophotonic Devices.  pp.169-176,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5359