1.

国際会議録
国際会議録
1. Effect of the Bottom Electrode Contact (BEC) on the Phase Transformation of N2 doped Ge2Sb2Te5(NGST) in a Phase-Change Random Access Memory
Lee, Suyoun ; Song, Y. J. ; Hwang, Y. N. ; Lee, S. H. ; Park, J. H. ; Ryoo, K. C. ; Ahn, S. J. ; Jeong, C. W. ; Oh, J. H. ; Shin, J. M. ; Yeung, F. ; Jeong, W. C. ; Kim, Y. T. ; Park, J. B. ; Koh, K. H. ; Jeong, G. T. ; Jeong, H. S. ; Kim, Kinam
出版情報: Materials and processes for nonvolatile memories : symposium held November 30-December 2, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.373-378,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 830
2.

国際会議録
国際会議録
2. A Low Temperature Direct Bonding Method Using an Electron-Beam Evaporated Silicon-Oxide Interlayer
Park, H. W. ; Ju, B. K. ; Lee, Y. H. ; Park, J. H. ; Lee, N. Y. ; Koh, K. H. ; Shin, D. K. ; Kang, I. B. ; Samaan, N. ; Haskard, M. R. ; Oh, M. H.
出版情報: Materials for mechanical and optical microsystems : symposium held December 4-5, 1996, Boston, Massachusetts,U.S.A..  pp.167-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 444