1.

国際会議録
国際会議録
1. Chemical Identification of the Atomic Scale in MBE-Grown III-V Alloy Semiconductors
Koenraad,P.M. ; Johnson,M.B. ; Pfister,M. ; Salemink,H.W.M.
出版情報: Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995.  pp.1471-1480,  1995.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 196-201
2.

国際会議録
国際会議録
2. Luminescence of a Delta Doping Related Exciton in GaAs:Si
Henning,J.C.M. ; Kessener,Y.A.R.R. ; Koenraad,P.M. ; Leys,M.R. ; Vleuten,W.C.van der ; Wolter,J.H. ; Frens,A.M.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.653-656,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Influence of Silicon Diffusion on the Transport Properties of the 2DEG in Si ｦﾄ-Doped GaAs
Koenraad,P.M. ; Barsony,I. ; Stadt,A.F.W.van der ; Perenboom,J.A.A.J. ; Wolter,J.H.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.663-668,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147