1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of failure mechanisms for oxide VCSELs (Invited Paper)
McHugo, S.A. ; Krishnan, A. ; Krueger, J.J. ; Luo, Y. ; Tan, N.-X. ; Osentowski, T. ; Xie, S. ; Mayonte, M.S. ; Herrick, R.W. ; Deng, Q. ; Heidecker, M. ; Eastley, D. ; Keever, M.R. ; Kocot, C.P.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VII.  pp.55-66,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4994
2.

国際会議録
国際会議録
2. Studies of ESD-related failure patterns of Agilent oxide VCSELs
Krueger, J.J. ; Sabharwal, R. ; McHugo, S.A. ; Nguyen, K. ; Tan, N.-X. ; Janda, N. ; Mayonte, M.S. ; Heidecker, M. ; Eastley, D. ; Keever, M.R. ; Kocot, C.P.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers VII.  pp.162-172,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4994
3.

国際会議録
国際会議録
3. GaN-based tunnel junction in optical devices(Invited Paper)
Takeuchi, T. ; Hasnain, G. ; Corzine, S.W. ; Hueschen, M. ; Schneider, R.P., Jr. ; Kocot, C.P. ; Blomquvist, M. ; Chang, Y.-L. ; Lefforge, D. ; Krames, M.R. ; Cook, L.W. ; Stockman, S.A. ; Han, J. ; Diagne, M. ; He, Y. ; Makarona, E. ; Nurmikko, A.V.
出版情報: Physics and Simulation of Optoelectronic Devices X.  pp.555-562,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4646