1.

国際会議録
国際会議録
1. Optimization of side gate length and side gate voltage for sub-100-nm double-gate MOSFET
Kim, J.-H. ; Kim, G.-H. ; Ko, S.-W. ; Jung, H.-K.
出版情報: Smart structures, devices, and systems : 16-18 December 2002 Melbourne, Australia.  pp.308-315,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4935
2.

国際会議録
国際会議録
2. Optimum scaling theory to minimize the roll-off of threshold voltage for nanoscale MOSFET
Lim, G.-S. ; Ko, S.-W. ; Kim, J.-H. ; Lee, J.-I. ; Jung, H.-K.
出版情報: Smart structures, devices, and systems : 16-18 December 2002 Melbourne, Australia.  pp.325-332,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4935
3.

国際会議録
国際会議録
3. Comparison of LDD and double-gate MOSFET for nanoscale devices
Ko, S.-W. ; Kim, J.-H. ; Ko, S.-W. ; Jung, H.-K.
出版情報: Smart structures, devices, and systems : 16-18 December 2002 Melbourne, Australia.  pp.316-324,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4935
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. A Demographic Analysis and Reconstruction of Selected Cases from the Pedestrian Crash Data Study.
Stammen, J.A. ; Ko, S.-W. ; Guenther, D.A. ; Heydinger, G.
出版情報: 2002 SAE world congress : technical paper.  2002.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2002