1.

国際会議録
国際会議録
1. Low and Intermediate Energy Positron Backscattering
Knights,A.P. ; Coleman,P.G. ; Jensen,K.O. ; Walker,A.B.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.177-180,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
2.

国際会議録
国際会議録
2. An Electrostatic Beam System for Positron-Annihilation-Induced Auger Electron Spectroscopy
Overton,N. ; Knights,A.P. ; Goodyear,A. ; Coleman,P.G.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.189-192,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
3.

国際会議録
国際会議録
3. A Study of Epithermal Positron Emission from Metallic Surfaces
Goodyear,A. ; Knights,A.P. ; Overton,N. ; Coleman,P.G.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.161-164,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
4.

国際会議録
国際会議録
4. Positron Implantation Studies of YBa2Cu307-x
Anwand,W. ; Brauer,G. ; Coleman,P.G. ; Knights,A.P. ; Teske,K. ; Schuster,G. ; Rudolph,K.
出版情報: Positron annihilation : ICPA-10 : Proceedings of the 10th International Conference on Positron Annihilation, May 23-29, 1994, Beijing, China.  Part1  pp.133-136,  1995.  Aederlmannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 175-178
5.

国際会議録
国際会議録
5. Hybrld silicon-organic light-emitting diodes for 1.5-μm optoelectronics
Curry,R.J. ; Gillin,W.P. ; Somerton,M. ; Knights,A.P. ; Gwilliam,R.M.
出版情報: Organic Light-Emitting Materials and Devices IV.  pp.265-271,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4105