1.

国際会議録
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1. Formation of Ultra Shallow Donors in Silicon by Long-Term-Annealing at 470 °C
Aberg,D. ; Hallberg,T. ; Svensson,B.G. ; Lindstrom,J.L. ; Kleverman,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.385-390,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録
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2. Vibronic interaction at a gold-related center in silicon
Ghatnekar,S. ; Kleverman,M. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.209-214,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
3.

国際会議録
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3. Photothermal Ionization Spectroscopy
Grimmeiss,H.G. ; Kleverman,M. ; Olajos,J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.341-354,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
4.

国際会議録
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4. The identification of the Si:Au and Si:Pt IS3/2(r8)+ｦ｣phonon-assisted Fano resonance
Kleverman,M. ; Olajos,J. ; Tidlund,P.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.479-484,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
5.

国際会議録
国際会議録
5. Pseudo or deep donor excitation spectra in silicon
Kleverman,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.497-502,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
6.

国際会議録
国際会議録
6. The orthorhombic FeIn complex in silicon
Tidlund,P. ; Kleverman,M.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part1  pp.455-460,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
7.

国際会議録
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7. Spectroscopy on transition-metal defects in silicon
Kleverman,M. ; Thilderkvist,A. ; Grossman,G. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.125-136,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
8.

国際会議録
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8. The Excited 5T1 State of the Fei｡? -Center in Silicon
Thilderkvist,A. ; Grossmann,G. ; Kleverman,M. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.165-170,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
9.

国際会議録
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9. Identification of the Iron-Boron Line Spectrum in Silicon
Ghatnekar-Nilsson,S. ; Kleverman,M. ; Emanuelsson,P. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.171-176,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
10.

国際会議録
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10. Excitation Spectrum of the Interstitial Iron Donor in Silicon
Olajos,J. ; Nielsen,B.Bech ; Kleverman,M. ; Omling,P. ; Emanuelsson,O. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.397-402,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41