1.

国際会議録
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1. Effective-Mass Theoty of Shallow Donors in 4H-SiC
Ivanov, I. G. ; Stelmach, A. ; Kleverman, M. ; Janzen, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.511-514,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
2.

国際会議録
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2. THE ELECTRONIC STRUCTURE OF INTERSTITIAL IRON IN SILICON
Thilderkvist, A. ; Grossman, G. ; Kleverman, M. ; Grimmeiss, H.G.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.51-56,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
3.

国際会議録
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3. *HIGH-RESOLUTION SPECTROSCOPY OF POINT DEFECTS IN SILICON
Grimmeiss, H.G. ; Kleverman, M. ; Olajos, J.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.3-14,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
4.

国際会議録
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4. *TRANSITION METAL EXCITED STATES IN SILICON
Kleverman, M. ; Olajos, J. ; Grossman, G. ; Grimmeiss, H. G.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.141-152,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
5.

国際会議録
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5. THE DEEP 0.11eV MANGANESE ACCEPTOR LEVEL IN GaAs
Kleverman, M. ; Janzen, E. ; Linnarsson, M. ; Monemar, B.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.207-210,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
6.

国際会議録
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6. DEEP LEVELS IN SILICON AND SILICON- GERMANIUM ALLOYS
Grimmeiss, H.G. ; Kleverman, M.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.37-52,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
7.

国際会議録
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7. THE ELECTRONIC STRUCTURE OF THE "0.15 Ev" Cu ACCEPTOR LEVEL IN GaAs
Janzen, E. ; Linnarsson, M. ; Monemar, B. ; Kleverman, M.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.169-174,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163