1.

国際会議録
国際会議録
1. Epitaxial Layer Lifetime Characterization in the Frequency Domain
Park, J.E. ; Schroder, D.K. ; Tan, SE. ; Choi, B.D. ; Fletcher, M. ; Buczkowski, A. ; Kirscht, F.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.383-395,  2000.  Bellingham, Wash..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-17
2.

国際会議録
国際会議録
2. Application Of Room-Temperature Photoluminescence For Characterizing As-Grown And Thermally Processed CZ Silicon Wafers
Kirscht, F. ; Orschel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Shabani, M. ; Buczkowski, A.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.173-178,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
3.

国際会議録
国際会議録
3. Photoluminescence Intensity Analysis in Application To Contactless Characterization of Silicon Wafers*
Buczkowski, A. ; Orsehel, B. ; Kim, S. ; Rouvimov, S. ; Snegirev, B. ; Fletcher, M. ; Kirscht, F.
出版情報: High purity silicon VII : proceedings of the international symposium.  pp.299-310,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-20
4.

国際会議録
国際会議録
4. Lattice Strain and Defects in Epitaxial Silicon Wafers
Kirscht, F. ; Snegirev, B. ; Zaumseil, P. ; Kissinger, G. ; Takashima, K. ; Wildes, P. ; Hennessy, J.
出版情報: Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.60-67,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-12