1.

国際会議録
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1. Effects of PECVD W-N diffusion barrier on thermal stress and electrical properties of Cu/W-N/SiOF multilevel interconnect
Kim,Y.T. ; Kim,D.J. ; Lee,S. ; Park,Y.K. ; Kim,I.-S. ; Park,J.-W.
出版情報: In-line characterization, yield reliability, and failure analysis in microelectronics manufacturing : 19-21 May 1999, Edinburgh, Scotland.  pp.227-233,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3743
2.

国際会議録
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2. Formation and Annihilation of Epitaxial Stacking Faults Generated from Pre-Existing Nucleation Sites in Silicon
Cho,C.R. ; Noh,K.Y. ; Lee,D.H. ; Kim,Y.S. ; Ko,S.W. ; Kim,C.W. ; Kim,D.H. ; Son,C.B. ; Kim,S.J. ; Cho,D.H. ; Choi,J.J. ; Kim,D.J. ; Bae,K.M. ; Rozgonyi,G.A.
出版情報: High Purity Silicon VI : proceedings of the sixth International Symposium.  pp.201-208,  2000.  Pennington, N.J., Bellingham, Wash..  Electrochemical Society — SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4218
3.

国際会議録
国際会議録
3. Failure detection of reinforced concrete beams with embedded fiber optic Michelson sensors
Kwon,I.B. ; Park,P. ; Huh,Y.H. ; Kim,D.J. ; Hong,S.H. ; Lee,D.C. ; Titin,C. ; Moon,H.
出版情報: Smart structures and materials 2000 : smart systems for bridges, structures, and highways : 6-7 March 2000, Newport Beach, California.  pp.400-411,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3988
4.

国際会議録
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4. Improvement in diffusion barrier properties of PECVD W-N thin film by low-energy BF2+ implantation
Kim,D.J. ; Kim,Y.T. ; Park,Y.K. ; Sim,H.S. ; Park,J.-W.
出版情報: In-line characterization, yield reliability, and failure analysis in microelectronics manufacturing : 19-21 May 1999, Edinburgh, Scotland.  pp.324-331,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3743
5.

国際会議録
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5. Thermal stability of PECVD W-B-N thin film as a diffusion barrier
Kim,Y.T. ; Kim,D.J. ; Lee,C.W. ; Park,J.-W.
出版情報: Multilevel Interconnect Technology.  pp.48-56,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3214
6.

国際会議録
国際会議録
6. Digital video watermarking using 3D-DCT and intracubic correlation
Lim,J.H. ; Kim,D.J. ; Kim,H.T. ; Won,C.S.
出版情報: Security and Watermarking of Multimedia Contents III.  pp.64-72,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4314