1.

国際会議録

国際会議録
Gupta, P. ; Kahng, A. ; Kim, Y. ; Shah, S. ; Sylvester, D.
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing IV : 23-24 February, 2006, San Jose, California, USA.  pp.61560U-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6156
2.

国際会議録

国際会議録
Gupta, P. ; Kahng, A. B. ; Kim, Y. ; Sylvester, D.
出版情報: Design and process integration for microelectronic manufacturing IV : 23-24 February, 2006, San Jose, California, USA.  pp.61560B-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6156
3.

国際会議録

国際会議録
Yu, E.G. ; Kim, Y. ; Kang, K.M. ; Chang, S.Y.
出版情報: Eco-materials processing & design VII : proceedings of the Conference of the 7th International Symposium on Eco-materials Processing & Design, January 8-11 2006, Chengdu, China.  pp.298-301,  2006.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 510-511
4.

国際会議録

国際会議録
Ourmazd, A. ; Kim, Y.
出版情報: Advances in materials, processing, and devices in III-V compound semiconductors.  pp.127-138,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 144
5.

国際会議録

国際会議録
Ourmazd, A. ; Kim, Y. ; Bode, M.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.639-646,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
6.

国際会議録

国際会議録
Kim, Y. ; Ourmazd, A. ; Feldman, R. D. ; Rentscheler, J.. A. ; Taylor, D. W. ; Austin, R. F.
出版情報: Advances in materials, processing, and devices in III-V compound semiconductors.  pp.163-168,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 144
7.

国際会議録

国際会議録
Kim, Y. ; Ourmazd, A.
出版情報: Degradation mechanisms in III-V compound semiconductor devices and structures : symposium held April 17-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.101-108,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 184
8.

国際会議録

国際会議録
Feldman, R.D. ; Austin, R.F. ; Cesar, C.L. ; Islam, M.N. ; Soccolich, C.E. ; Kim, Y. ; Ourmazd, A.
出版情報: Long-wavelength semiconductor devices, materials, and processes : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.113-122,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 216
9.

国際会議録

国際会議録
Bersuker, U. ; Zeitzoff, P. ; Brown, G. ; Kim, Y. ; Hoe, A. ; Lin, C. ; Young, C. ; Lysoght, P. ; Gardner, M. ; Murto, R. W ; Huff, H. R.
出版情報: Advanced short-time thermal processing for Si-based CMOS devices : proceedings of the international symposium.  pp.417-422,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-14
10.

国際会議録

国際会議録
Fox, M.A. ; Ruberu, S. ; Hadd, A. ; Kim, Y.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Environmental Aspects of Electrochemistry and photoelectrochemistry.  pp.104-111,  1993.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1993-18