1.

国際会議録
国際会議録
1. Characterization of interfaces in silicon-on-insulator structure
Kang, S.G. ; Ryoo, K. ; Kim, H.R. ; Seo, G. ; Lee, S.H. ; Kim, D.S. ; Hong, P.Y
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.203-216,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
2.

国際会議録
国際会議録
2. Monolithic Thin Film Edge Emission Diodes
Kim, H.R. ; Karpov, L. ; Bhatia, V. ; Weichold, M.
出版情報: Cold cathodes : proceedings of the first International Symposium.  pp.209-214,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-28