1.

国際会議録

国際会議録
Kwak, Y. ; Lee, S. -D. ; Choe, W. ; Kim, C. -Y.
出版情報: Color imaging X : processing, hardcopy, and applications : 17-20 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.319-327,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5667
2.

国際会議録

国際会議録
Choe, W. ; Lee, S. -D. ; Kim, C. -Y.
出版情報: Color imaging X : processing, hardcopy, and applications : 17-20 January 2005, San Jose, California, USA.  pp.336-343,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5667