1.

国際会議録
国際会議録
1. Electrochemical C-V Profiling of p-Type 6H-SiC
Kayambaki, M. ; Zekentes, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.1061-1064,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(2)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Electrochemical Characterization of p-Type Hexagonal SiC
Kayambaki, M. ; Zekentes, K. ; Tsagaraki, K. ; Pernot, E. ; Yakimova, R.
出版情報: Silicon carbide and related materials : ECSCRM2000, proceedings of the 3rd European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Kloster Banz, Germany, September 2000.  pp.619-622,  2001.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 353-356
3.

国際会議録
国際会議録
3. Electrochemical C-V Profiling of n-Type 4H-SiC
Zekentes, K. ; Kayambaki, M. ; Mousset, S.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.681-684,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460