1.

国際会議録
国際会議録
1. EPR observation of a deep center with a pl electron configuration in GaAs
Kaufmann,U. ; Baeumler,M. ; Hendorfer,G.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.2  pp.959-964,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
2.

国際会議録
国際会議録
2. Magnetic resonance of X-point shallow donors in AlSb:Te bulk crystals and AlSb MBE layers
Wilkening,W. ; Kaufmann,U. ; Schneider,J. ; Schonherr,E. ; Glaser,E.R. ; Shanabrook,B.V. ; Waterman,J.R. ; Wagner,R.J.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.2  pp.793-798,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
3.

国際会議録
国際会議録
3. Optical absorption and Zeeman study of the 6H SiC:Cr
Dornen,A. ; Kaufmann,B. ; Baur,J. ; Kunzer,M. ; Kaufmann,U. ; Baranov,P.G.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.697-702,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
4.

国際会議録
国際会議録
4. Determination of the FR3 Acceptor Level by Direct Excitation of the FR3 EPR in Undoped Semiinsulating GaAs
Baeumler,M. ; Mooney,P.M. ; Kaufmann,U.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.785-790,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
5.

国際会議録
国際会議録
5. Magnetic Circular Dichroism Investigation of the Neutral and the Ionized Manganese Acceptor in GaAs
Baeumler,M. ; Meyer,B.K. ; Kaufmann,U. ; Schneider,J.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part2  pp.797-802,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
6.

国際会議録
国際会議録
6. ODMR Studies of MOVPE-Grown GaN Epitaxial Layers
Kunzer,M. ; Kaufmann,U. ; Maier,K. ; Schneider,J. ; Herres,N. ; Akasaki,I. ; Amano,H.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.87-92,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
7.

国際会議録
国際会議録
7. Group-V Antisite Defects,VGa,in GaAs
Kaufmann,U.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.201-210,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147
8.

国際会議録
国際会議録
8. Iron Acceptors in Gallium Nitride(GaN)
Maier,K. ; Kunzer,M. ; Kaufmann,U. ; Schneider,J. ; Monemar,B. ; Akasaki,I. ; Amano,H.
出版情報: Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993.  Pt.1  pp.93-98,  1994.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 143-147