1.

国際会議録
国際会議録
1. Thermal Studies on Stress-Induced Void-Like Defects in Epitaxial-CoSi2 Formation
Ho, C. S. ; Pey, K. L. ; Tung, C. H. ; Tee, K. C. ; Prasad, K. ; Saigal, D. ; Tan, J. J. L. ; Wong, H. ; Lee, K. H. ; Osipowicz, T. ; Chua, S. J. ; Karunasiri, R. P. G.
出版情報: Advanced interconnects and contacts : symposium held April 5-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.109-,  1999.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 564
2.

国際会議録
国際会議録
2. (4.3) 7:31 - 7:34 PM - Multitechnique Characterization of Sandwiched Si/SiGe/Si Heterostructures
Feng, Z.C. ; Yang, T. R. ; Karunasiri, R. P. G. ; Lu, W. ; Collins, W. E.(National Taiwan University)
出版情報: SiGe: materials, processing, and devices : proceedings of the First international symposium.  pp.149-158,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-07
3.

国際会議録
国際会議録
3. SURFACE RECONSTRUCTION OF MBE-GROWN GeXSi1-X ON Si (111)
Huang, C. F. ; Karunasiri, R. P. G. ; Park, J. S. ; Wang, K. L. ; Kang, T. W.
出版情報: Epitaxy of semiconductor layered structures : symposium held November 30-December 4, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.425-430,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 102