1.

国際会議録

国際会議録
Simoen, E. ; Vanhellemont, J. ; Kaniava, A. ; Claeys, C.
出版情報: Proceedings of the Symposium on the Degradation of Electronic Devices due to Device Operation as well as Crystalline and Process-Induced Defects.  pp.72-81,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-1
2.

国際会議録

国際会議録
Kaniava, A. ; Uedono, A. ; Uchida, H. ; Komatsu, A. ; Okada, S. ; Itoh, H.
出版情報: Positron annihilation, ICPA-12 : Proceedings of the 12th International Conference on Positron Annihilation, August 6-12, 2000, München, Germany.  pp.156-158,  2001.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 363-365
3.

国際会議録

国際会議録
Vanhellemont, J. ; Simoen, E. ; Bosman, G. ; Claeys, C. ; Kaniava, A. ; Gaubas, E. ; Blondeel, A. ; Clauws, P.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.670-683,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
4.

国際会議録

国際会議録
Libezny, M. ; Kaniava, A. ; Kissinger, G. ; Nijs, J. ; Claeys, C. ; Vanhellemont, J.
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.165-172,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
5.

国際会議録

国際会議録
Poortmans, J. ; Rosmeulen, M. ; Kaniava, A. ; Vanhellemont, J. ; Elgamel, H. ; Nijs, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.399-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
6.

国際会議録

国際会議録
Kaniava, A. ; Menczigar, U. ; Vanhellemont, J. ; Poortmans, J. ; Rotondaro, A. L. P. ; Gaubas, E. ; Vaitkus, J. ; Koster, L. ; Graf, D.
出版情報: Ultraclean semiconductor processing technology and surface chemical cleaning and passivation : Symposum held April 17-19, 1995, San Francisco, California, USA.  pp.389-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 386
7.

国際会議録

国際会議録
Jarasiunas, K. ; Sudzius, M. ; Kaniava, A. ; Vaitkus, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.59-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
8.

国際会議録

国際会議録
Vanhellemont, J. ; Kaniava, A. ; Libezny, M. ; Simoen, E. ; Kissinger, G. ; Gaubas, E. ; Claeys, C. ; Clauws, P.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.35-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
9.

国際会議録

国際会議録
Gaubas, E. ; Kaniava, A.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.609-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
10.

国際会議録

国際会議録
Gaubas, E. ; Jarasiunas, K. ; Kaniava, A. ; Vaitkus, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.603-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378