1.

国際会議録
国際会議録
1. Sintering Behavior of the Powder Injection Molded Nanocrystalline Fe-50wt%Ni
Nam, H.Y. ; Kwon, S.K. ; Kang, Y.S. ; Lee, J.S.
出版情報: Designing, processing and properties of advanced engineering materials : proceedings of the 3rd International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials, held in Jeju, Korea, November 5-8, 2003.  pp.1141-1144,  2004.  Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 449-452
2.

国際会議録
国際会議録
2. Preparation of Monodispersed and Nano-Sized Spherical SiO2 Particles by Emulsion Method
Baek, J.H. ; Kang, Y.S. ; Yoon, S.Y. ; Park, H.C.
出版情報: Designing, processing and properties of advanced engineering materials : proceedings of the 3rd International Symposium on Designing, Processing and Properties of Advanced Engineering Materials, held in Jeju, Korea, November 5-8, 2003.  pp.1161-1164,  2004.  Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 449-452
3.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
3. Development of Hydroformed High Strength Steel Chassis Part.
Kim, K-H. ; Choi, H.H. ; Chung, G-S. ; Kang, Y.S. ; Park, S.H.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
4.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
4. A Finite Element Model for Spherical Debris Denting in Heavily Loaded Contacts.
Kang, Y.S. ; Sadeghi, F. ; Hoeprich, M.R.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2003.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : TRIB
シリーズ巻号: 2003
5.

国際会議録
国際会議録
5. Layer-specific illumination optimization by Monte Carlo method
Kim, H.-C. ; Nam, D.-S. ; Hwang, C. ; Kang, Y.S. ; Woo, S.-G. ; Cho, H.-K. ; Han, W.-S.
出版情報: Optical Microlithography XVI.  Part One  pp.244-250,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5040
6.

国際会議録
国際会議録
6. Applications of angular scatterometry for the measurement of multiply periodic features
Raymond, C.J. ; Littau, M.E. ; Youn, B.J. ; Sohn, C.-J. ; Kim, J.A. ; Kang, Y.S.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVII.  1  pp.577-584,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5038
7.

国際会議録
国際会議録
7. Process latitude extension in low k1 DRAM lithography using specific layer-oriented illumination design
Kang, Y.S. ; Nam, D.-S. ; Hwang, C. ; Woo, S.-G. ; Cho, H.-K. ; Han, W.-S.
出版情報: Optical Microlithography XVI.  Part Three  pp.1304-1309,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5040
8.

国際会議録
国際会議録
8. Experimental investigation of fabrication process-, transportation-, storage, and handling-induced contamination of 157-nm reticles and vacuum UV cleaning
Okoroanyanwu, U. ; Stepanenko, N. ; Vereecke, G. ; Eliat, A. ; Kocsis, M.K. ; Kang, Y.S. ; Jonckheere, R.M. ; Conard, T. ; Ronse, K.G.
出版情報: Optical Microlithography XVII.  pp.487-503,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5377