1.

国際会議録
国際会議録
1. Microactuators Driven by Giant Magnetostrictive Thin Films
Lim, S.H. ; Choi, Y.S. ; Han, S.H. ; Kim, H.J. ; Moon, S. ; Kang, H.K. ; Oh, M.H. ; Ahn, C.H.
出版情報: Proceedings of the Fifth International Sympposium on Magnetic Materials, Processes, and Devices : applications to storage and microelectromechanical systems (MEMS).  pp.327-341,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-20
2.

国際会議録
国際会議録
2. A Study on the Solid Phase Reaction and Thermal Stability in the Ni-Sil-x Gex System Using Rapid Thermal Annealing (RTA) Process
Choi, H.-J. ; Kim, H.-Y. ; Ko, D.-H. ; Ku, J.-H. ; Choi, C.-J. ; Choi, S. ; Fujihara, K. ; Kang, H.K. ; Yang, M-H. ; Yang, C.-W.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.591-600,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-2
3.

国際会議録
国際会議録
3. Effect of SiGe Layer on Electrical Characteristics of SGI-PDSOI MOSFETs
Choc, T.H. ; Bac, G.J. ; Kim, S.S. ; Rhee, H.S. ; Lee, K.W. ; Lee, N.I. ; Kang, H.S. ; Fujihara, K. ; Kang, H.K. ; Moon, J.T.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.349-354,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
4.

国際会議録
国際会議録
4. Generation of MPEG-7 descriptor in compressed domain
Jin, S.H. ; Kim, C.S. ; Kang, H.K. ; Ro, Y.M.
出版情報: Image processing : algorithms and systems : 21-23 January 2002, San Jose, USA.  pp.160-169,  2002.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4667
5.

国際会議録
国際会議録
5. Opitcal fiber sensor systems for simultaneous monitoring of strain and damage in smart composites
Bang, H.J. ; Kim, D.H. ; Kang, H.K. ; Hong, C.S. ; Kim, C.G.
出版情報: Smart structures and materials 2003 : Smart sensor technology and measurement systems : 3-5 March 2003, San Diego, California, USA.  pp.43-51,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5050