1.

国際会議録

国際会議録
M.H. Unewisse ; K.C. Liddiard ; B.I. Craig ; S.J. Passmore ; R.J. Watson
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.77-87,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
2.

国際会議録

国際会議録
K.C. Liddiard ; G.L. Goodman
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.685-695,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
3.

国際会議録

国際会議録
C. Jansson ; U. Ringh ; K.C. Liddiard
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.644-653,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
4.

国際会議録

国際会議録
K.C. Liddiard ; U. Ringh ; C. Jansson
出版情報: Infrared technology XXI : 9-13 July 1995, San Diego, California.  pp.564-572,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2552
5.

国際会議録

国際会議録
M.H. Unewisse ; B.I. Craig ; R.J. Watson ; O. Reinhold ; K.C. Liddiard
出版情報: Growth and characterization of materials for infrared detectors II : 13-14 July, 1995, San Diego, California.  pp.43-54,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2554
6.

国際会議録

国際会議録
C. Jansson ; U. Ringh ; K.C. Liddiard
出版情報: Smart focal plane arrays and focal plane array testing : 17-18 April 1995, Orlando, Florida.  pp.72-87,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2474
7.

国際会議録

国際会議録
U. Ringh ; C. Jansson ; K.C. Liddiard
出版情報: Smart focal plane arrays and focal plane array testing : 17-18 April 1995, Orlando, Florida.  pp.88-97,  1995.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2474